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检验型测试体现在产品的后端可靠性测试中，为了保证芯片产品的优良率，在产品的可靠性检验中，ESD检验是一个重要环节，以集成电路中的人体模型工业测试标准(见静电放电（ESD）保护器件的模拟与表2-3)，芯片通过一定值(一般为2kV)的ESD检验才
摘要:在功率集成电路（IC）产品的失效中，静电放电（ElectrostaticDischarge，ESD）所引起IC失效的现象已得到广泛关注。随着芯片规模的不断的缩小和新的半导体制造工艺的引入，以及高压、大电流、强的电磁干扰、频繁的插拔、高低温恶劣的IC...
芯片制造工艺中静电放电（esd）及其防治对策研究.pdf,摘要随着电子工业的飞速发展，静电在电子产品的生产和使用中的危害日趋严重，造成不可估量的经济损失。以美国为例，电子工业部门每年因静电造成的损失高达100亿美元。在电子工业中，静电危害主要表现为静电放电.静电放电会使电子元...
《静电放电(ESD)保护器件的模拟与本科毕业论文》.doc,编号本科生毕业设计（论文）题目：静电放电（ESD）保护器件的模拟与物联网工程学院微电子学专业二〇一四年六月摘要静电放电(ElectrostaticDischarge，ESD)是构成集成电路...
编号本科生毕业设计（论文）题目：静电放电（ESD）保护器件的模拟与物联网工程学院微电子学专业二〇一四年六月摘要摘要静电放电(ElectrostaticDischarge，ESD)是构成集成电路可靠性的主要因素之一，存在于生产到使用的每一个环节，并成为开发新一代工艺技术的难点之一，近年来...
在任何高压和电噪声系统中，静电放电（ESD）抗扰度都是电磁兼容性（EMC）的一个重要方面，是选择电流隔离器件的关键考虑因素。ESD可以穿透电隔离系统。它并不涉及印刷电路板上的保护装置。国际标准IEC61000-4-2…
静电，通常都是人为产生的，如生产、组装、测试、存放、搬运等过程中都有可能使得静电累积在人体、仪器或设备中，甚至元器件本身也会累积静电，当人们在不知情的情况下使这些带电的物体接触就会形成放电路径，瞬间使得电子元件或系统遭到静电放电的损坏(这就是为什么以前修电脑都必须...
先来谈静电放电(ESD:ElectrostaticDischarge)是什么？这应该是造成所有电子元器件或集成电路系统过度电应力破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(>几千伏)，所以这种损伤是毁灭性和永久性的，会造成电路直接烧毁。所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。
静电放电会使电子元器件失效或存在隐患，甚至使电子产品完全损坏.本论文从静电放电的机理入手，论述了在芯片生产过程中静电放电产生的原因以及对电子产品的危害，并重点讨论了芯片制造车间静电测试的理论与实践。.在此基础上，以在上海贝岭股份公司...
PCB电路进行抗静电放电的设计思路分享.微电子电路面临的风险比以往任何时候都大，罪魁祸首是静电放电（ESD）。.静电放电是隐秘的杀手，特别容易攻击敏感的IC。.单次静电放电事件就可以将PCB摧毁。.抗静电放电设计只要错失一步就可能意味着...
本论文从静电放电的机理入手,论述了在芯片生产过程中静电放电产生的原因以及对电子产品的危害,并重点讨论了芯片制造车间静电测试的理论与实践.在此基础上,以在上海贝岭股份公...
在电子工业中,静电危害主要表现为静电放电。静电放电会使电子元器件失效或存在隐患,甚至使电子产品完全损坏。本论文从静电放电的机理入手,论述了在芯片生产过程中静电放电产...
静电放电会使电子元器件失效或存在隐患,甚至使电子产品完全损坏。本论文从静电放电的机理入手,论述了在芯片生产过程中静电皎电产二生的原因以及对电子产品的...
本论文从静电放电的机理入手,论述了在芯片生产过程中静电皎电产二生的原因以及对电子产品的危害,并重点讨论了芯片希}1造车间静电测试的理论与实践。在此勤出...
在任何高压和电噪声系统中,静电放电(ESD)抗扰度都是电磁兼容性(EMC)的一个重要方面,是选择电流隔离器件的关键考虑因素。ESD可以穿透电隔离系统。它并不涉及印刷电路板上的保护装置...
在电子工业中,静电危害主要表现为静电放电。静电放电会使电子元器件失效或存在隐患,甚至使电子产品完全损坏。本论文从静电放电的机理入手,论述了在芯片生产过程中静电放电产...
3Ctest3C测试中国EDS10IC静电放电发生器(EDS10IC静电放电发生器针对人体模型(HBM)和机械模型(MM)的静电放电抗扰度试验