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2002年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要(2)——用于预防ESD失效的ESD电路模拟——应用于0.18μmCMOS技术产品来自维普期刊专业版喜欢0阅读量:2摘要:摘要:展...
2002年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要(2)——用于预防ESD失效的ESD电路模拟——应用于0.18μmCMOS技术产品在线阅读下载PDF导出出处《电子产品可靠性与环境试验》...
静电放电(ESD)保护器件的模拟与本科毕业论文文档格式:.doc文档页数:42页文档大小:1.71M文档热度:文档分类:论文--毕业论文文档标签:esd...
《静电放电(ESD)保护器件的模拟与本科毕业论文》.doc,编号本科生毕业设计(论文)题目:静电放电(ESD)保护器件的模拟与物联网工程学院微电子学专...
静电放电(esd)器件的模拟与研究本科毕业设计论文.doc,编号论文题目:学院专业摘要ABSTRACTESDisoneofthemostimportantreliabilityproblemsofICp...
2)静电。图2是一个CMOS器件和一个双极型器件在受到ESD损伤后芯片内部的相貌像。(a)C0694.0kV(b)JF7092.0kV图2静电放电对芯片内部造成破坏3)静电放电产生的电磁...
【摘要】:随着半导体制造工艺的不断发展,集成电路的特征尺寸在不断缩小,静电放电(Electro-StaticDischarge,ESD)成为了影响集成电路产品可靠性的重要因素,针对芯片产品应用领...
...ng/author_form.html太气人了，拖了这么久还是不能入库！GEESD交流群：197646634...