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2.1电子探针微区分析技术在应用电子探针微区分析技术检测玻璃缺陷时，主要是通过利用聚焦的电子束在玻璃缺陷的表面选定区域进行扫描，或者将其固定在某一区域进行照射，对玻璃微小区域的固体样品开展无损化学分析工作。
然而，电子显微镜只能分析样品的表面或内部结构，而不能对样品微区中元素的组成和分布做任何事情。1956年，法国人发明了电子探针，并提出了电子探针微束分析的概念(EPMA)。它使用电子激发的x光来分析物质的元素组成。它是x光光谱学和电子光学技术的
微区成分分析的结果往往为断裂失效分析的提供重要的线索和数据。目前,工程材料失效分析常用的电子探针的基本工作方式为:对样品表面选定微区作定点的全谱扫描定性或半定量分析,以及对其中所含元素浓度的定量分析。
一般的化学分析方法仅能得到分析试样的平均成分，而在电子显微镜上却可实现与微区形貌相对应的微区分析，因而是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法。那么，小析姐就跟大家一起聊一聊电子探针显微…
电子探针EPMA分析.ppt,1.1EPMA概述电子探针X射线显微分析仪(ElectronprobeX-raymicroanalyser,EPMA)的简称为电子探针。电子探针利用0.5μm－1μm的高能电子束激发分析试样，通过电子束与试样相互作用产生的特征X射线、二次电子、吸收...
对于微区原位微量元素的测定,使用的仪器有激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱仪和离子探针,两者分析能力较强,但在在分析过程中会对样品造成破坏且空间分辨率较低。电子探针具有无损和高空间分辨率的优点,但是提高其分析微量元素的精确度和准确度是一个难题。
电子探针X射线显微分析仪(ElectronprobeX-raymicroanalyser,EPMA)的简称为电子探针。.电子探针利用0.5um-1um的高能电子束激发分析试样，通过电子束与试样相互作用产生的特征X射线、二次电子、吸收电子、背散射电子及阴极荧光等信息来分析试样的微区内(um范围内...
周剑雄.1980.微区分析概论.北京:科学出版社周剑雄.1996.微束分析标准与标准化.国外矿床地质，第二期周剑雄.2006.扫描电镜测长问题的讨论(论文集).成都:电子科技大学出版社周剑雄.2008.锆石阴极发光的电子探针研究(论文集).成都:电子科技大学出版社
通过定量电子探针微区分析技术(quantitativeelectronprobemicroanalysis)检测了沙尘暴和非沙尘暴样品各900个颗粒（空力学直径分别为1.0-2.5μm和2.5-10μm），根据颗粒物二次电子像和X-射线光谱将它们分成15类，相对丰度最多的种类为起源于土壤的铝
本文利用微区薄层电阻测试的一种斜置四探针新方法,将扩散微区薄层电阻测试结果绘成全片的灰度图,这种微区薄层电阻测试Mapping技术十分有利于评价材料的质量。.在测试过程中应用微处理器,可立即数字显示相应的测量电压及微区的薄层电阻,加快了计算速度并...