薄膜厚度测量方法研究与应用.doc,薄膜厚度测量方法研究与应用[摘要]测量薄膜厚度的方法很多，其中在实验室中利用迈克尔逊干涉仪测量薄膜厚度的方法,原理简单。通过测出动镜的移动量及观察相应的干涉条纹变化现象,就能计算薄膜的厚度,有较高的测量精度。
由于雕塑薄膜的多孔程度可以方便地通过参数进行控制，从而控制其填充密度，所以雕塑薄膜可以用来制作渐变或梯度折射率滤光片。通过降低其体密度还可以做成超低折射率材料，这种超低折射率材料目前在提高LED发光效率等方面已经得到应用。
基于NDIR的塑料薄膜厚度测量技术研究.doc,基于NDIR的塑料薄膜厚度测量技术研究摘要：随着塑料薄膜以及以薄膜为主要辅助材料的其他产品在工业生产和人类生活中的广泛应用，薄膜的厚度越来越成为一个重要的物理性指标。因此薄膜厚度的测量一直是人们密切关注和不断研究改进的课题。
毕业设计说明书论文氧化铝薄膜厚度测量及方法研究0101B203学院(系):电子工程系测控技术与仪器指导教师：刘双峰讲师01061B203设计(论文)题目：氧化铝薄膜厚度测量及方法研究2005年3月1日~2005年6月15日设计(论文)地点:电子工程系刘双峰专业负责人:发任务书日期2005年3月1日本科...
***学院本科毕业论文（设计）任务书论文（设计）题目：等色干涉测薄膜厚度学生姓名**学*专业班级*号职指导教师***论文（设计）起止时间*称课题类型指导老师承担的科研课题课题意义（课题意义、技术路线、任务与进度要求、主要参考）薄膜技术是当前材料科技的研究热点，纳米级...
把该技术应用到椭偏测厚方面的还不多，仅有美国的Gaertnerscientific公司近年推出了几款基于斯托克斯参量测量原理的椭偏测厚仪器，在我国未见把斯托克斯参量测量技术应用于研制椭偏仪的报道。.为了实现对纳米级薄膜椭偏参数的快速测量，本论文提出了光...
薄膜X射线测厚仪的设计与开发,测厚仪,X射线,薄膜,PLC。测厚仪在薄膜生产行业中具有举足轻重的作用。它的精度直接影响到产品质量。随着生产需要对产品厚度的测量与质量控制提出了更高的...
薄膜有专门的测厚仪GB6672-86塑料薄膜和薄片厚度的测定机械测量法GB673-86塑料薄膜与片材长度和宽度的测定在算一下重量就可以了！或者参考：GB1033-86塑料密度和相对密度试验方法
论文的主要内容包括：（1）对椭圆偏振测量术的基本原理进行了简述，并对光度法基本原理进行了详细推导分析；（2）分析了椭偏测量术的复杂性，分析了椭圆偏振测量中椭偏参数关于薄膜参数的灵敏度以及入射角对椭偏参数的影响；知识水坝为您
毕业论文>【硕士论文】干涉法测量膜厚方法及干涉图处理技术研究干涉法测量膜厚方法及干涉图处理技术研究学科：测试计量技术及仪器研究生签字：南舒瞳指导教师签字．衫奏孝摘要随着光电技术、微电子器件等技术的迅速发展，薄膜...
论文主要介绍了OCT技术,并根据实验要求在实验室完成扫频OCT系统搭建。使用扫频OCT系统分别对单层塑料薄膜、两层塑料薄膜以及三层塑料薄膜进行扫描成像...
毕业设计说明书(论文)氧化铝薄膜厚度测量及方法研究作者:学号:学院(系):专业:指导教师:评阅人:20**年6月中北大学毕业设计(论文)任务书学院(...
《椭偏仪测量薄膜厚度和折射率》-毕业论文.doc,旋光仪测定溶液的浓度及旋光PAGE2椭偏仪测量薄膜厚度和折射率【引言】椭圆偏振测量(椭偏术)是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象...
薄膜厚度测量方法研究与应用.doc,薄膜厚度测量方法研究与应用[摘要]测量薄膜厚度的方法很多,其中在实验室中利用迈克尔逊干涉仪测量薄膜厚度的方法,原理简单。...
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小结:射线测厚测厚仪由于自身射线物理特性,具有不可避免缺点:①射线不可聚焦性使射线【毕业论文】基于ndir的塑料薄膜厚度测量技术研究的设计与开发word文档(定...
内容提示:椭偏仪测量薄膜厚度和折射率【引言】椭圆偏振测量(椭偏术)是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法,其原理是利用偏振光束在...
!"#$超薄膜厚度的一种检测方法研究刘爽宁永功张毅张怀武陈艾(电子科技大学信息材料工程学院,成都!"##$%)刘俊刚杨家德(重庆光电技术研究所,重庆%###!#)李昆(...
【摘要】:随着社会经济的不断发展,有机薄膜作为一种功能材料,其应用越来越广泛,相应地薄膜的生产规模也不断扩大。在薄膜的生产过程中,其质量的监测一直是一个至关重要的环节...
摘要椭偏技术是一种测量光在样品表面反射后偏振状态改变的方法,它可以同时测得样品薄膜的厚度和折射率。这种测量具有高精度、无破坏性等特点,目前已经在光学、半...