第三代半导体迎来新发展机遇 南京大学电子科学与工程学院，210033 郑有炓，半导体材料与器件物理专家，中国科学院院士。长期从事半导体异质结构材料与器件物理研究，近年主要致力于第三代半导体材料与器件 …
半导体激光器功率稳定性的研究,半导体激光器,功率稳定性,MSP430F167单片机,自动控制。 自从1960年发现激光以来,激光器件、激光技术及其应用均以极快的速度发展,目前几乎已渗透到所有的学科和应用领域。激光器...
中国期刊网,期刊,杂志,读者服务,电子杂志,论文,文库,期刊网,电子刊 广州杰赛科技股份有限公司 摘要：半导体集成电路的可靠性设计是在产品研制的全过程中，以预防为主、加强系统管理的思想为指导，从线路设计、版图设计、工艺设计、封装结构设计、评价试验设计、原材料选用、软件设计等 ...
功率半导体器件如晶闸管 二极管等广泛应用于功率变换 自动控制 力驱动脉冲功率等领域 对于这些领域中应用的装置而言 可靠性是设计制造 及使用者最关心的问题 装置的高可靠性对功率半导体器件的可靠性也提出了更 高要求 为了保证给用户提供高可靠性的产品 近年来 奇亿公司不断致力于功 率 ...
期刊 全文库 学位论文库 会议论文库 年鉴全文库 学术百科 工具书 学术不端检测 ... 性领域电子设备用塑封半导体器件的筛选、鉴定和验收试验项目、条件和判据；为国产塑封半导体的可靠性攻关的内容和技术路线提供试验依据。 本文通过试验总结了现 ...
微波半导体器件可靠性的电子显微分析. 【摘要】： 随着现代电子技术的发展,电子整机系统的工作频率越来越高,微波半导体器件在各领域的应用日益广泛,而在使用过程中出现的质量问题和可靠性问题也日益增多,有些已造成了生产方和使用方的巨大经济损失 ...
SiC金属氧化物半导体(MOS)器件中SiO_2栅氧化层的可靠性直接影响器件的功能。为了开发高可靠性的栅氧化层,将n型4H-SiC(0001)外延片分别在1 200,1 250,1 350,1 450和1 550℃5种温度下进行高温干氧氧化实验来制备SiO_2栅 …
半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法. 陈耿. 【摘要】： 伴随着新材料与工艺技术的出现,半导体集成电力线宽逐渐减少,其集成度逐渐提高,对于集成电路可靠性要求逐渐严格。. 如今,集成电路生产加工突飞猛进,在一定程度上为集成电路可靠性研究奠定了 ...
通过半导体数值分析工具，较系统探讨了器件动态开关过程中的物理行为和失效机制，阐明了器件失效的内部物理机理和影响器件可靠性的关键因素。 基于以上研究，提出了快速预测器件可靠性的方法和提升器件可靠性的新结构，对SiC MOSFET器件的设计和工程应用起到了良好的指导作用。
化合物半导体 ——“超越摩尔定律”领域的宠儿. Compound semiconductor—the favorite of "Beyond Moore's Law". 陆敏. 当前全球大部分半导体芯片和器件，虽然仍是以硅基半导体为主。. 不过，随 着万物互联、5G 通信及新能源时代的到来，以砷化镓、磷化铟、氮化镓及碳化 硅 …
418151148《半导体光电》,位于“TN电子技术、通信技术类".不过影响因子不是很高,复合影响因子:0.407,综合影响因子:0.220.猜你喜欢板块导航网络生活资源共享化...
可靠性测试以下是半导体进行的各种可靠性测试的相关信息:加速度测试大多数半导体器件的寿命在正常使用下可超过很多年。但我们不能等到若干年后再研究器件;我们需要增加施加的应力。施加的应...
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可靠性测试以下是TI对产品进行的各种可靠性测试的相关信息:加速测试大多数半导体器件的寿命在正常使用下可超过很多年。但我们不能等到若干年后再研究器件;我们必须增加施加的应力。施加的应力...
半导体集成电路的可靠性半导体ICs的可靠性.PDF15页内容提供方:136***3783大小:505.13KB字数:约1.14万字发布时间:2018-10-07浏览人气:150下载次数:...
半导体器件的可靠性。半导体器件的可靠性刘大福【期刊名称】《红外》【年(卷),期】2003(000)005【摘要】@@可靠性技术是20世纪50年代发展起来的一门综合性技术,它包...
半导体封装可靠性测试小微封装封动未来芯芯相印1人赞同了该文章半导体封装可靠性测试
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正一、使用可靠性的重要性半导体器件的可靠性包含固有可靠性和使用可靠性两个方面,固有可靠性又包括设计可靠性和制造可靠性,它是可靠性的基础。但使用可靠性亦很重要,尤其在...