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引用该论文 Liu Bin,Liu Yuanyuan,Cui Bifeng. Long-Term Aging and Failure Analysis for 980 nm Laser Diodes[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2012, 49(9): 091404 …
13年+ 从事半导体失效分析(生产线前端、后端和封装应用)的经验。 进行了5年超短激光脉冲处理应用研究,拥有 3项 专利并发表了52篇论文。 在本次研讨会上,将为您介绍 TESCAN 样品大体积制备的工作流程。
【原创】一起去上海参加 电子失效研讨会 ?????????,“集成电路失效分析与可靠性案例”技术研讨会邀请函 在IPFA2009(集成电路物理与失效分析国际会议,简称IPFA)即将在苏州举行之际,IPFA2009苏州组委会特举办此次“集成电路失效分析与可,
半导体失效分析流程方法总结,免费查看详细内容。 1.OM 显微镜观测,外观分析 2.C-SAM(超声波扫描显微镜) (1)材料内部的晶格结构,杂质颗粒,夹杂物,沉淀物,
第一作者发表SCI论文10篇,IF均>2,中文核心期刊70余篇、授权国家专利80余件,研究或省部级科技进步奖2项,地厅级科技进步奖10项。 《EDS及EBSD在半导体失效分析中的应用进展》
多年来还从事大型半导体工艺平台建设、管理与运行工作。国家重点研发计划项目负责人,主持和参与了多项科技部、基金委、中科院等重要科研项目。发表和合作发表论文百余篇,多个SCI期刊活跃审稿人,出书2本(Springer出版),培养多名博士、硕士。
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《JournalofSemiconductorTechnologyandScience半导体技术与科学》杂志的出版,旨在为从事更广泛集成电路技术的研发人员提供一个论坛。、超大规模集成电路制造工艺技术、器件技...
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半导体失效分析失效分析FIBX光probe;RIE;EMMI;decap;IV失效分析简述:失效分析是一门新兴发展中的学科,在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实...
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求推荐失效分析方面的SCI或EI期刊作者Isandy17来源:小木虫55011举报帖子+关注求推荐失效分析方面的SCI或EI期刊,金属方面返回小木虫查看更多分享至:更多今日热帖IE...
《失效分析与预防》是中国第一份关于故障分析和预防技术的专业期刊。它主要反映了我国在故障分析和预防方面的技术成果,促进了国内外学术交流,培养了高技术人才,提高了我国故障分析的理论和技术水...