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中国期刊网,期刊,杂志,读者服务,电子杂志,论文,文库,期刊网,电子刊[导读]摘要：本文首先阐述了铝电解电容的失效机理探究，接着分析了电容寿命影响因素，最后对电容寿命预测进行了探讨。
简介：.本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的第3章，第3.6节恒定应力加速寿命试验，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看.3.6恒定应力加速寿命试验.3.6.1加速寿命试验的提出.对于可靠性高的电子元器件进行...
参考文献:『l1杨家铿.电子元器件长期贮存可靠性分析.第九届全国可靠性物理学术讨论会论文集,延安,2001:65—72[2】刘建,恩云飞等.单一失效机理引起的元器件贮存寿命评价方法研究.电子产品可靠性与环境试验,2006,24(4):23-25】陆俭国,骆燕燕等.
半导体技术第31卷第9期2006年9月680PackageTestTechnology封装测试技术电子元器件加速寿命试验方法的比较（北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性实验室，北京100022）摘要：加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成...
本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的第3章，第3.6节恒定应力加速寿命试验，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看3.6恒定应力加速寿命试验3.6.1加速寿命试验的提出对于可靠性高的电子元器件进行长期寿命试验，无论是从成本还是从时间上来看...
分类号：学校代号：11911uDC－一密级：——学211Q15Q2垒广东工业大学学位论文电子元器件的贮存可靠性研究杨少华论文答辩日期：2QQ鱼生5且摘要摘要电子元器件贮存状态下的可靠性，对于“长期贮存，一次使用”的军用电子装备而言，具有重要意义。
本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的第3章，第3.5节指数分布情况的寿命，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看3.5指数分布情况的寿命试验寿命试验是指评价分析产品寿命特征量的试验，它是在实验室里，模拟实际工作状态或储存状态，投入一定...
IGBT失效机理.1、突发失效：应用工程师的主要任务是通过设计防止突发失效，设计时必须考虑所有相关因素。.可以通过冗余系统、加强保护来实现，合理选用器件和工程师的设计决定了突发失效的风险.2、渐变失效：器件制造商起着决定性作用，一般制造...
关于电子元器件储存期限的调研报告在积压物资处理过程中，我们发现有较多的电子元器件因过期而报废。查阅集团《仓储管理制度》第4.3.4规定：电子元器件保质期一年，如库存时间超期，则…
关于电子元器件储存期限的调研报告关于电子元器件储存期限的调研报告在积压物资处理过程中，我们发现有较多的电子元器件因过期而报废。查阅集团《仓储管理制度》第4.3.4规定：电子元器件保质期一年，如库存时间超期，则一律报废处理。
微电子学与计算机邹心遥,姚若河.基于BP神经网络的电子元器件寿命预测[J].微电子学与计算机,2009,26(1):52-54.ZOUXinyao,YAORuohe.Lifeprediction...
职称顾铠高工申请学位类别工程硕士万方数据万方数据基于模型驱动和数据驱动的电子元器件剩余寿命预测方法研究学校代码10701类分类号TN82学号151...
COMPUTERVol.26January2009收稿日期:2008-02-18基于BP神经网络的电子元器件寿命预测华南理工大学电子与信息学院,广东广州510640)电子元器件的寿命...
(论文)电子元器件加速寿命试验方法的比较下载积分:3000内容提示:半导体技术第31卷第9期2006年9月680STPackage&TestTechnologyIC封装测试技术电子...
基于BP神经网络的电子元器件寿命预测电子元器件的寿命预测对于制订寿命试验的规划,确定所需的试验时间及试验经费,都有十分重要的指导作用.基于BP神经网络提出了一种电子元器...
随机非线性退化的机械产品寿命评估及在主动再制造的应用[D].大连理工大学,2019.[3]马文博.基于IGA-RBF的电子元器件贮存环境无线监控系统研究[D].长安大学,201...
IGBT和锂离子电池作为电子元器件的两个典型代表广泛应用于高铁、风力发电、电动汽车、移动终端等领域,本文以这两种电子元器件为例分别对其进行了剩余使用寿命预测。对于IGBT...
对于电子元件寿命预测问题,文章提出了基于改进神经网络电子元件寿命预测方法.根据试验测试获得的寿命数据,可以得出其对应的可靠性.文章通过结合改进的算法和BP神经网络结合,...
【摘要】:加速寿命试验是评价和提升高可靠长寿命电子元器件长期工作可靠性的有效方法。详细介绍了电子元器件加速寿命试验方案设计和实施中需要考虑的主要问题;通...
这在寿命预测方法上进行了新的探索,但是它是建立在数据统计基础上的,应进一步考虑与失效物理模型的相结合。关键词:电子元器件;贮存可靠性;评价;失效机理;贮存...