Nicole800328
谢谢楼上各位的解答,尤其要谢谢Xi2004,我PM求助得到他的详细解答,再次致谢,这个问题困扰我很久,这次求助成功再次让我感到了百思的威力和温暖!另外,三楼的解答我试过没有成功,不知是否我的软件问题,Xi2004的解答测试通过,完全没有问题,受教了。
下一个路岔
用布拉格公式计算:2dsinθ=nλ,其中d为晶面间距,θ为衍射半角(即发生衍射峰对应的θ角度),因为一般将2θ成为衍射角。
n成为衍射级数,即某一晶面的一级衍射,或二级衍射,λ为所用靶的波长。然后结合所测的晶体结构,计算晶胞参数。
找到该晶相的晶面间距d(hkl)与晶面指数(h,k,l)及晶格常数a,b,c的关系式,而d(hkl)可由XRD测得,h,k,l为整数,所以有某些晶面衍射峰可测得a,b,c。也有专门的小计算软件可以使用。
扩展资料:
同一空间点阵可因选取方式不同而得到不相同的晶胞,所以,选取晶胞要求是最能反映该点阵的对称性,选取原则为:
1、选取的平行六面体应反映出点阵的最高对称性;
2、平行六面体内的棱和角相等的数目应最多;
3、当平行六面体的棱边夹角存在直角时,直角数目应最多:
4、在满足上述条件的情况下,晶胞应具有最小的体积。
参考资料来源:百度百科-晶胞
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简单的讲,SEM是用来观察材料表面形貌的,XRD是用来检测材料晶体结构的,使用完全不同的仪器。具体说明如下:SEM 是SCANNING ELECTRON MICROSCOPE的缩写,指扫描电子显微镜是一种常用的材料分析手段。 扫描电子显微镜于20世纪60年代问世,用来观察标本的表面结构。其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象,反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子,标本在固定、脱水后,要喷涂上一层重金属微粒,重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。 目前扫描电镜的分辨力为6~10NM,人眼能够区别荧光屏上两个相距0.2MM的光点,则扫描电镜的最大有效放大倍率为0.2MM/10NM=20000X。 它是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的人射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征X射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理,采用不同的信息检测器,使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集,可得到有关物质微观形貌的信息;对X射线的采集,可得到物质化学成分的信息。正因如此,根据不同需求,可制造出功能配置不同的扫描电子显微镜。XRD 即X-RAY DIFFRACTION ,X射线衍射,通关对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。 X射线是一种波长很短(约为20~0.06┱)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离(10-8NM)相近,1912年德国物理学家劳厄(M.VON LAUE)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布喇格父子(W.H.BRAGG,W.L.BRAGG)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NACL、KCL等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布喇格定律: 2D SINθ=Nλ 式中λ为X射线的波长,N为任何正整数,又称衍射级数。其上限为以下条件来表示: NMAX=2DH0K0L0/λ, DH0K0L0<λ/2 只有那些间距大于波长一半的面族才可能给出衍射,以此求纳米粒子的形貌。 当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵平面间距为D的原子面上时,在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布喇格定律简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布喇格条件的反射面得到反射,测出θ后,利用布喇格公式即可确定点阵平面间距、晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(DEBYE—SCHERRER)法的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中,所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布喇格条件,故选用连续X射线束。利用结构已知的晶体,则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算X射线的波长,从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。 X射线衍射现象发现后,很快被用于研究金属和合金的晶体结构,出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦(A.WESTGREN)(1922年)证明α、β和δ铁都是体心立方
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晶胞参数α=b0∧c0β=c0∧a0γ=a0∧b0
晶胞的形状和大小可以用6个参数来表示,此即晶格特征参数,简称晶胞参数。决定晶胞形状、大小的一组参数。包括晶胞的3组棱长(即晶体的轴长)a0、b0、c0和3组棱相互间的夹角(即晶体的轴角)α、β、γ。其中:α=b0∧c0β=c0∧a0γ=a0∧b0
晶胞能完整反映晶体内部原子或离子在三维空间分布之化学-结构特征的平行六面体单元。其中既能够保持晶体结构的对称性而体积又最小者特称“单位晶胞”,但亦常简称晶胞。其具体形状大小由它的三组棱长a、b、c及棱间交角α、β、γ(合称为”晶胞参数”)来表征,与空间格子中的单位平行六面体相对应。
同一空间点阵可因选取方式不同而得到不相同的晶胞,所以,选取晶胞要求是最能反映该点阵的对称性,选取原则为:
1) 选取的平行六面体应反映出点阵的最高对称性;
2) 平行六面体内的棱和角相等的数目应最多;
3)当平行六面体的棱边夹角存在直角时,直角数目应最多:
4)在满足上述条件的情况下,晶胞应具有最小的体积其具体形状大小由它的三组棱长a、b、c及棱间交角α、β、γ(合称为”晶胞参数”)来表征,与空间格子中的单位平行六面体相对应。
参考资料来源:百度百科-晶胞参数
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