当前位置:学术参考网 > nand器件制作工艺论文
这部分研究是在中芯国际集成电路制造有限公司实习过程中进行的,成果对工艺线2DNAND闪存存储器的工艺优化有着重要的指导意义。本论文第二部分工作是研究3DNAND闪存存储器的特性。虽然3DNAND闪存存储器现如今已经量产,但是3D器件中的可靠性机理...
本论文的主要工作有:1.提出一种新型八层NAND芯片的LFBGA封装结构。本文参考JEDEC对封装器件的求,在长为20mm,宽为16mm,封装高度为0.9mm的封装尺寸内实现八层NAND芯片的结构设计。2.提出八层NAND芯片LFBGA封装的工艺方案。
北京理工大学硕士学位论文122.1.3NANDFlash器件的指令在基于NANDFlash的嵌入式存储系统中,通常的设计组织结构自顶向下分别是应用软件层、文件系统层、地址转换层、设备驱动层以及物理层。设备驱动层是存储模块能否正常运行的关键一环。
yt021s——8——s——钽旦大学学校代码;10246(专业学位)NROM砘曲器件、工艺及可靠性研究院系(所):信息科学与工程学院完成日期t电子与通信工程汤庭鳌教授20…06}年g!
半导体器件制造工艺及设备论文栏目下面包含有约827篇半导体器件制造工艺及设备硕士学位论文和博士学位论文,或是相关的...
3DNAND工艺东芝和三星在3DNAND上的早期开拓性工作带来了两大主要的互相竞争的3DNAND技术。东芝开发了一种叫做BitCostScalable(BiCS)的工艺。BiCS工艺采用了一种先栅极方法(gate-firstapproach),这是通过交替沉积氧化物(SiO)层
液晶器件制作工艺技术之取向排列工艺论文报告液晶器件频道豆丁首页社区企业工具创业微案例会议热门频道工作总结作文股票医疗文档分类论文生活休闲外语心理学全部建筑频道建筑…
液晶器件制作工艺技术之取向排列工艺论文报告指导老师:朱雪萍10级光电:李全明液晶取向技术摘要:从取向层材料、取向原理、取向工艺等方面综述了几种液晶取向技术:摩擦取向技术、倾斜蒸镀法,并阐述其优缺点。
那么,在哪能够查到跟半导体工艺和器件的相关的文献呢?尤其是半导体生产商的同行们发表的跟芯片生产高度相关的文献。读博读研的时候,webofscience可谓是大杀器,学术界每年也都有数量庞大的前沿探索型研究问世,但是,相信我,99.9%的从webofscience搜出的前沿文献对你在工作中遭遇…
1987年在IEDM上公布的NAND的细微化为1um。此次的发言者应该是NAND的发明人—舛冈富士雄先生(笔者推测),在次年的1988年,以1um生产出了4Mbit的NAND,1992年以0.7um发布了16Mbit。自此,东芝的NAND业务开始正式启动。
本发明提供一种3DNAND存储器件的制造方法,在堆叠层中形成存储单元串之后,在台阶区的介质层之上形成介质材料的隔离层,之后,利用贯通堆叠层的栅线缝隙,进行堆叠层中牺牲层的替...
本发明提供一种NAND器件及其制作方法,电子装置,该制作方法包括:确定用于控制栅双重图形刻蚀的光刻图案中第一核和第二核之间的距离,其中所述光刻图案包括多个间隔排列的核,所...
3DNAND的制造工艺十分复杂,以下把关键部分列出。自2013年8月三星首先宣布它的3DNAND成功推出,之后的每年它都会前进一步,由24层,32层,48层,到今年第四代的64层,以及2017年可能是80...
然而随着晶圆生产工艺的进步单片北京理工大学硕士学位论文NANDFlash的容量大幅提升,而闪存产品价格逐步走低,如2006年单位存储容量NANDFlash价格下降近50%,...
我不是一名清洗工艺专家,在演讲中介绍更多的是制造工艺的发展趋势及其对清洗的影响。我将在这篇文章中分享并进一步讨论那次演讲的内容,主要围绕DRAM、逻辑器件...
3DNAND存储器件及其制造方法_计算机软件及应用_IT/计算机_专业资料(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111244096A(43)申请公布日2020...
为了克服上述瓶颈,发展了双堆栈(dual-deck)或三堆栈高级3DNAND闪存架构。利用连接至彼此的交替的氧化物/金属层的两个或多个堆栈,节点/对的数量可以显著增大到超出工艺能力的限制。...
本论文的主要工作有:器件的求,在长为20姗,宽为16姗,封装高度为O.9哪的封装尺寸内实现八层NAND芯片的结构设计。2.提出八层NAND芯片LFBGA封装的工艺方案。在初...
本论文的主要工作有:1.提出一种新型八层NAND芯片的LFBGA封装结构。本文参考JEDEC对封装器件的求,在长为20mm,宽为16mm,封装高度为0.9mm的封装尺寸内实现八层NAND芯片的结构设...
平面NANDflash方面,本文分析了由于栅极电阻过大而导致的产品异常的案例。对于特征尺寸小于30nm的先进flash器件栅极金属化工艺,利用金属钨的良好的填充特性和不易变形的特点,...